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　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業質量力求和失效分析領域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據您的要求量身定制。顯微鏡中心或工業質量力求實驗室的多功能解決方案不同的真空室大小和可滿足所有應用要求的載物臺選項-甚至是大型工業零部件樣品使用LaB6燈絲，能夠得到更優的圖像質量對不導電和無導電涂層的樣品的成像和分析性能出色可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應用的需求蔡司電鏡|EVO系列

　　利用成熟的 Gemini 電子光學元件，將佳的分析性能與場發射掃描技術相結合。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提率。Sigma300 性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。樣品均可獲得更精準可重復的分析結果。蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點：l用于清晰成像的靈活探測*利用探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。*利用 in-lens 雙探測器獲取形貌

　　CUBE系列臺式掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，CUBE系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備，節約空間成本。中心傾斜對于3D重構功能至關重要，CUBE系列提供馬達驅動多功能樣品臺，可進行XYZ運動切換，方便用戶輕松找到理想檢測區域。并且CUBE系列擁有自動拍攝功能與圖片自動拼接功能，快速獲取所需要的質量信息，自動化操作減少人為失誤。CUBE系列臺式掃描電鏡特點：高分辨率,與落地式SEM一樣優異高空間利用率和便攜性，易于

　　國產電鏡|鎢燈絲掃描電子顯微鏡|EM69系列鎢燈絲掃描電鏡產品特點：兼容低真空模塊豐富的自動化功能支持定制化選配多功能超大樣品倉大視野導航相機拓展豐富技術參數：分辨率——EM6910/6920 SE：3nm@30kV，8nm@3kV； BSE ：4nm@30kV（選配）樣品臺——EM6910 五軸自動中樣品臺，EM6920 五軸自動大樣品臺加速電壓——EM6910/6920 0.2kV-30kV探測器——EM6910/6920 二次電子探測器、半導體四分割背散射探測器（選配）、紅外 CCD、低真空二次

　　EM80系列場發射掃描電鏡_EM8010/8020場發射掃描電子顯微鏡產品特點：肖特基場發射電子槍多級高性能透鏡系統束流穩定性高可定制超大樣品倉操作簡便拓展性豐富 性價比高應用領域：材料科學、生物學、醫學、化學、環境科學等多個領域。技術參數：分辨率——EM8010/8020 SE 1.5nm@15kV；BSE 3nm@30kV（選配）放大倍數——EM8010 1x-600000x 光學放大 1x-100x（選配）EM8020 1x-600000x 光學放大 1x-100x電子槍——EM8010/

　　場發射掃描電鏡EM8100產品特點：亞納米級分辨率低像差錐形物鏡大束流自動化控制系統超大樣品倉鏡筒加速技術場發射掃描電子顯微鏡EM8100應用領域：EM8100高分辨場發射掃描電子顯微鏡，采用鏡筒加速技術、低像差錐形物鏡等全新電子光學設計，能夠在低電壓下實現亞納米級的成像效果，對各類材料具有廣泛的適用性，能夠滿足多種科研和工業領域的測試需求。場發射掃描電鏡EM8100技術參數：分辨率——SE 0.9nm@30kV放大倍數——1x-3000000x，光學放大1x-100x電子槍——Schottky 肖特基場

　　EM8200超高分辨場發射掃描電鏡產品特點：新一代低像差物鏡、減速樣品臺、低壓高分辨成像低噪聲Inlens探測器自動推入式背散射探測器全新的用戶界面設計豐富的軟件測量功能應用領域：EM8200超高分辨場發射掃描電子顯微鏡，采用全新電子光學設計，基于減速樣品臺、新一代低像差物鏡、Inlens探測器等技術，集成豐富的圖像處理功能，為新能源、半導體等用戶提供全新解決方案。技術參數：分辨率——SE 0.8nm@15kV、1.5nm@1kV放大倍數——1x-1600000x；光學放大 1x-100x電子槍——Sch

　　隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且重視其采集過程的時代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的圖像、大束流分析及長時間穩定運行的冷場成像技術，同時還大大提升了高通量、自動數據獲取能力。*設備照片包含選配項。日立場發射掃描電子顯微鏡SU8600系列特點：★高分辨成像日立的高亮度電子源可力求了即使在低著陸電壓下，也可獲得高分辨的圖像。★高襯度的低加速電壓背散射圖像3D NAND截面觀察;在低加速電壓條件下，背散射電子信號能夠明顯的顯示出氧化硅層和氮化硅

　　SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多優異良能。SU7000是一臺實現了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。接下來請欣賞SU7000帶來的多彩世界。*圖為包含選配項的SU7000示意圖日本日立高分辨肖特基場發射掃描電鏡SU7000核心理念：1.采用優的成像技術SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學系統和檢測系統，使得裝置可以同時接收二次

　　電子顯微鏡(EM)品牌進口|HITACHI日立掃描電子顯微鏡|SU5000熱場式場發射掃描電鏡特點：▲高性能電子光學系統二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)＊高靈敏度: PD-BSD, 強的低加速電壓性能，低至100 V成像大束流(>200 nA): 便于微區分析▲性能優良壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配備高靈敏度低真空探測器(UVD)＊開倉室快速簡單換樣(大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)微區分析: EDS, WDS,

　　日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可發揮其高性能。SU3900標配多功能大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。日立電鏡_鎢燈絲掃描電鏡_SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡特點：①SU3900標配多功能大樣品倉，可應對大型樣品的觀察■樣品臺可搭載大/重樣品通過更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品選配樣品交換倉，可在主樣品倉保持真空的狀態下快速更換樣品，大大提高了工作效率具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*紅外CCD探測器，提高了樣

　　FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現直觀的視野移動。盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現高的畫質全新的用戶界