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　　AFM作為一種掃描探針顯微鏡(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直徑為數納米(1納米：百萬分之一毫米)的尖銳探針掃描樣品表面，可同時實現納米級別的樣品表面的形貌觀察和物性映射評估。AFM已廣泛應用于電池材料、半導體、高分子、生物材料等各個領域的科學研究開發和質量管理。AFM100/100Plus，非專業人員都能輕松且穩定地獲取可靠數據，從而完成從科學研究用途到質量管理中的日常作業。特別是AFM100 Plus，其用途十分廣泛，可用于從觀察石墨烯和碳納米纖維等納米材料

　　掃描探針顯微鏡AFM5500MⅡ配置寬范圍平板掃描器，降低了機械原因造成的測量誤差。自動懸臂更換等自動化功能有助于提升品質管理，提高測試效率。單使用AFM5500MⅡ測試可以得到形貌和物理測量結果，再利用與SEM/CSI等其他顯微鏡的共享坐標樣品臺功能，可以實現高精度的故障解析與缺陷評價。此外，由于新增了AFM標記功能，多臺設備可以輕松測量樣品的同一位置。HITACHI日立全自動掃描探針顯微鏡AFM5500MⅡ規格：型號AFM5500M尺寸?重量裝置外觀尺寸?重量※1750 mm(W) x 877 mm(

　　AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。1. RealTune® II的參數自動設置功能有的參數自動設置功能！RealTune® II可預測并調整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數，可以根據樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，率、高精度地調整成合適的測量條件。通過新增加的參數自動設置功能（RealTun