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日立FlexSEM 1000 II掃描電子顯微鏡

所屬系列:ZJYQ-GYXWEM-HITACHI

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產品描述
FlexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節功能,可以在短時間內進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現直觀的視野移動。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現4.0 nm的分辨率
憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現高的畫質
全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實現高畫質和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位
*1 設置到桌面上時,請將機體與電源盒分離

*2 選項


日立掃描電子顯微鏡行業應用示例:

日立FlexSEM 1000 II掃描電子顯微鏡規格:

項目

內容

分辨率*3

4.0 nm(二次電子像、加速電壓:20 kV、高真空模式)
15.0 nm(二次電子像、加速電壓:1 kV、高真空模式)
5.0 nm(背散射電子像、加速電壓:20 kV、低真空模式)

加速電壓

0.3 kV20 kV

倍率

×6×300,000 (照片倍率)
×16×800,000 (顯示器顯示倍率)

低真空設置

6100 Pa

電子槍

預對中鎢燈絲電子槍

樣品臺

3軸馬達驅動樣品臺
X050 mmY040 mmZ515 mm
T-1590°R360°
大可觀察范圍:直徑64mmR聯用)*4

大樣品尺寸

直徑80 mm(選配:直徑153mm

大樣品高度

40 mm

尺寸

機體:450(寬度)×640(進深)×690(高度) mm
電源盒:450(寬度)×640(進深)×450(高度) mm

選項

高度低真空檢測器(UVD2.0

能量色散型X射線檢測器(EDS

軟件

Multi Zigzag(連續視野圖像導入功能)

*PC、桌子、監控器由客戶準備

*3機體和電源盒連接時候

*4使用標準支架時


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