ICP-OES等離子體發射光譜儀 SPECTROGREEN垂直同步雙觀測（DSOI）技術，使傳統的徑向等離子體觀測儀器的靈敏度提高了數倍。TI技術帶來的高靈敏度，能夠實現對痕量元素進行測量，即使在充滿挑戰性的環境基體也能尋求準確度，避免基體干擾。新推出的GigE讀出系統，能夠在不到100毫秒的時間內收集、傳輸光譜及數據，從而加快分析速度，縮短了樣品切換的時間，使單位時間內的樣品分析數量大大增加。靈敏及響應快速的LDMOS發生器，不需要外部冷卻：具有分析高重的復雜基體的能力 -- 而無需稀釋樣品 – 儀器開
