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　　激光粒度分析儀S3500系列性能指標：三激光，紅色，多探測器，多角度光學系統對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法測量范圍從0.02到2800m干濕法測量封閉的光路尋求光學元件的保護，很少或沒有操作員干預優點：利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進行分析的靈活性改進的Mie計算允許用戶準確測量復雜的粒子從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間固定探測器堅固耐用，并尋求正確的定位設備占地空間小，節省實驗室的寶貴空間Microtrac S3500系列產品：藍波2型(BWDL))：濕法

　　OPTACOM粗糙度輪廓測量儀特點：? 適用于各種輪廓測量任務的強大全能系統? 使用可選的粗糙度模塊一次測量輪廓和粗糙度? 直接在處具有 30 nm 的出色真實分辨率? 自動Y工作臺可選? 軸導軌和頭部由一個工件一體制成? X 軸與 Z 軸連接，對無間隙? 非接觸式線性增量測量系統，對無磨損? 機器校準（包括探頭校準）在 3 分鐘內完成? 使用 optacom 快速更換緊固件快速更換測針筆尖 – 無需工具且不會損失精度? 高精度線性軸，采用高強度航空鋁制成的機身集成驅動器

　　產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光，從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。- 再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標，即X-Z坐標- 然后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標- 后將采集的三維坐標數據交給的三維處理軟件進行各種表面參數的分析。 - 軟件能夠自動獲取用戶關心的表面

　　ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀，采用的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器可用于測量大尺寸樣品，并具有多種選項，包含360旋轉工作臺，原子力顯微鏡模塊，光學顯微鏡，特征區域定位等多種功能模塊。產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收

　　PS50型三維表面形貌儀是美國NANOVEA公司推出的一款科研版的三維表面形貌測量設備，采用的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器性價比高，可用于取代傳統的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收到被測物體上單點反射

　　JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，該儀器的測量探頭可以任意旋轉，適合精密測量 不可移動樣品表面形貌，同時適合進行野外測試。采用的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點。產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的

　　KOSAKA SE 700系列表面粗糙度測定機，是一款多功能的全自動測量產品，可進行高精度、高水平分析和多功能粗糙度測量，在機械加工、精密模具、電子組件等行業廣泛應用，無論是工廠車間或實驗室研究都能自如操控。表面粗糙度測定儀SE700特點：* KOSAKA表面粗糙度測定機SE 700系列產品可進行高精度、高水平分析。* 長X軸測量長度，可針對不同尺寸工件，X:120mm/Z:800um。* 配有各種型號的高精度觸針。* 配有多種功能，如真直度補償功能，確保了X軸的線性精度；圓弧補償功能，可保證觸針的垂直移

　　KOSAKA粗糙度儀|SE500A表面粗度測定機產品概述：●多功能的表面粗度、波紋度、段差測定。●對應各國的工業規范、多樣化的參數、可同時解析多種規格。●是精密輕便的高性能測定機，另有多種組合（搭配立柱床臺）擴充性優越可對應多種工件。● 55mm長的驅動距離且具備直線度精度。●搭配觸控螢幕及一鍵式測量按鈕，便于操作。較寬廣的記錄紙有效幅寬，擴大形狀記錄范圍。另可使用USB儲存測量結果。●具備自動的校準機能。KOSAKA表面粗度測定機SE500A 產品參數：測定參數JIS (2001/94/82)、DIN、

　　POROLUX BP是一款泡點測試儀，用于測量過濾和分離應用介質中的大孔徑（通常稱為“泡點 (BP)”）。POROLUX BP可在0 bar (0 psi) 至 5 bar (75 psi) 的壓力范圍內快速準確地提供泡點結果，并可檢測約300 m 至 0.13 m的孔隙。由于其簡化的操作，POROLUX BP 為 BP dPL（起泡點測量為與用戶定義的壓力增加的線性度的偏差）和 BP x-ml（在用戶定義的流量下測量的起泡點）提供了高度可重復的結果速度）。這使得 POROLUX BP 成為許多過濾和分離

　　POROLIQ 是一種液液通孔分析儀(LLP)，可根據步進/平衡型方法確定孔徑。這意味著只有在滿足用戶定義的壓力和流量穩定性算法的情況下才接受數據點。– 適合檢測非常小的孔隙，以及表征中空纖維等壓敏膜。液液置換法孔徑分析儀POROLIQ產品特點：? 液-液技術? 旨在測量脆弱樣品中的小孔隙? 孔徑小至 2 nm應用范圍廣泛無論是出于研發還是質量控制目的，我們的通孔分析儀對于表征各種材料的孔隙都是的：? 平板和中空纖維聚合物膜 ? 非織造布、精密織物和紡織品 ? 陶瓷膜和管? 金屬膜、多孔金屬盤、（燒結）金

　　POROLUX Revo 通孔分析儀采用MP（多級壓力工藝）技術、步進/平衡型方法，能夠以高分辨率提供準確、可重復的孔徑測量。得益于其軟件，使用 POROLUX Revo 分析過濾介質非常簡單。內置智能和重新評估功能等功能使該儀器使用起來非常友好。POROLUX Revo 是表征具有復雜孔隙結構的材料的較合適儀器，例如聚合物膜（平板和中空纖維）、陶瓷膜、多孔金屬和無紡布。Porometer通孔孔徑分析儀POROLUX Revo產品特點：? 氣液、壓力步進平衡型方法（采用 MP 技術）? 準確的孔徑結果與高

　　POROLUX Cito系列是氣液通孔分析儀 (GLP)，可根據壓力掃描方法確定孔徑。這是一種快速但可重復的方法，氣壓不斷增加，同時記錄所得流量。該儀器可在整個壓力范圍內以高精度測定泡點、平均流量孔徑、小孔徑、孔徑分布、累積流量分布和氣體滲透率。POROLUX Cito L&M 是研發和質量控制環境中的參考，用于表征具有較大孔隙的介質，例如非織造布和紡織品。由于其可測量的孔徑范圍更廣，POROLUX Cito 可在研發和質量控制中用于測量更廣泛的過濾和分離材料，包括膜。? 氣液壓力掃描測量方法?