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Rigaku WDXRF

所屬系列:ZJYQ-GPFXWDXRF-Rigaku

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產品描述
波長色散X射線熒光光譜法(WDXRF)在需要快速、準確的元素分析時(例如在鋼鐵廠控制熔體或水泥廠控制原材混合物時)已成為主要的技術。它在這些應用中受歡迎的一個原因是,其使用方便和設備堅固,使得沒有高級分析技能的操作人員也能在工廠條件下獲得高質量的結果。
WDXRF 的內在精度、速度和樣品制備的簡便性通常可以消除使用 ICP 和原子吸收 (AA) 光譜法等溶液基方法時遇到的許多問題。

Rigaku WDXRF示例參考:
ZSX PrimusII
ZSX PrimusII是理學公司最新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,是材料分析與評價的好幫手。
ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀,分析精度高。
可以對4Be到92U進行定性、定量分析。
元素的檢量范圍從0.0001% ~ 100%,如進行前處理,可以再下降2 ~ 3個數量級。
可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。
可以分析材料的領域包括:電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。

技術參數:
X射線發生器部分
X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW
高壓發生器:高頻變頻方式
額定電壓,電流:4kW,60kV-150mA
穩定度:±0.005%(對電源±10%變化時)
冷卻水:水冷冷卻水(內置)

分光部部分
樣品交換器:可以選擇12,24,36,48樣品交換器
樣品尺寸:φ51mmx40mm(H)
分析樣品面:最大φ35mm
樣品旋轉:30rpm
1次X射線濾波片:4種(Al,Ti,Cu,Zr)
視野限制光闌:6種自動交換機構(φ35,30,20,10,1,0.5 mm)
發散狹縫:3種自動交換機構(標準分辨率、高分辨率、超輕元素用(選件)
接收狹縫:SC用,F-PC用
測角儀:θ-2θ獨立驅動
測角范圍:SC、5°-118°, F-PC、13°-148°
最大掃描速度:1400°/min(2θ)
連續掃描:0.1-240°/min
晶體交換機構:10分光晶體自動交換機構
分光晶體:(標準)LiF(200)、Ge、PET、RX25
(選件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP
真空排氣系統:雙真空室高速排氣系統(雙真空泵)
粉末樣品附件(選件)
氦氣置換機構(選件):帶隔板
恒溫化機構:36.5度
記數.控制部分:
重元素用:SC閃爍計數管,記數線性1000kcps
輕元素用:F-PC流氣比例計數管,記數線性2000kcps
芯線加熱自動清洗機構
衰減器:IN-OUT自動切換(衰減率1/10)
計算機:windows PC
軟件:
定性分析:自動鑒定分析功能,包括平滑,扣背景
定量分析:檢量線法
JIS法
各種基體校正
無標樣分析法
EZ掃描,應用模板,
樣品徑自動選擇
譜峰分離
定精度測試
E-mail傳送功能,多功能標準樣品
其它選件
維護功能:
自動PHA調整(PAS)
全自動芯線清洗
自動老化
自動診斷
遠程診斷

主要特點:
1、提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準確度
      使用分光晶體RX-25,RX-61,RX-75,保證輕元素分析的靈敏度
      采用APC自動真空控制機構,保證超輕元素分析的準確度(理學專利)
      使用4KW 30um超薄窗、超尖銳、長壽命X光管,適合超輕元素分析
2、 采用新光學系統,實現對重元素的高靈敏度分析
3、 強大的粉末樣品測試功能
      上照式,可以長時間防止粉末污染分光室
       雙泵、雙真空設計(樣品室/預抽真空室),防止粉末樣品的細微粉塵混入分光室
       粉末附件,采用電磁閥真空密封,防止細微粉塵進入真空泵內
4、 加裝CCD視頻攝像機構,位置分辨率可達100um,可以進行0.5mm的微區分析,可以測量Mapping
5、 提高少量樣品的分析準確度
      使用r-θ樣品臺,解決了X射線照射不均以及分光晶體強度不均的問題。
6、 樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置
7、 48位自動進樣器
8、 PAS自動調整脈沖高度系統
      ACC自動清洗F-PC芯線系統
9、 節約能源(自動減少X射線管的輸出);節約PR-10氣體;節約He氣(選用He室時);節省空間
10、 自動監控、自動開關機、自動節能等多功能操作軟件
11、 NEW SQX軟件
12、 中文界面

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