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能量色散式X射線熒光(EDXRF)臺式光譜儀Epsilon4制藥和化妝品無損元素分析儀

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產品描述
為了符合監管機構的要求,如 ICH Q3D 和 USP<232>,馬爾文帕納科為有毒元素、催化劑殘留物或 PGM 顆粒提供了一系列以纖維素為基料的系統校準標準。 通過系統 IQ 和 OQ 包以及增強的數據性軟件提供對驗證和數據完整性要求的支持,用于用戶身份驗證和分析審計(FDA 21 CFR 第 11 部分)。 
能量色散式X射線熒光(EDXRF)臺式光譜儀Epsilon4制藥和化妝品無損元素分析儀特點:
》臺式 XRF 
Epsilon 4 將激發和檢測技術與智能設計相結合,其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀。 選擇性激發和 X 射線管輸出與探測系統功能的優化配置為實現系統高性能打下了基礎。
》低運行成本
Epsilon 4 不需要使用昂貴的酸、氣體和通風柜,如在 ICP 和 AAS 中。 要求是電源供電,在某些情況下使用氦氣提升樣品中輕元素的靈敏度。 同樣,XRF 光譜儀中的各種成分不會暴露在摩擦或高溫下,因此可以存留很多年。
》非破壞性分析
使用 Epsilon 4 進行測量是直接在疏松粉末或終產品上進行的(如藥片和膠囊),幾乎不需要進行樣品制備。 由于 XRF 是一項無損技術,因此也可根據需要隨后采用其他分析技術測量樣品。
》IQ 和 OQ 文檔
Epsilon 4 可實現安裝資質和操作資質程序。 這些程序是公司達到實驗室規范作業 (GLP)、良好規范 (GMP) 和 FDA 21 CFR 第 11 部分法規要求需要的儀器認證和驗證程序。
》制藥設置樣品
為了符合監管機構的要求,馬爾文帕納科為 1、2A、2B 和 3 級 PGM 顆粒、有毒元素或催化劑殘留物提供了一系列以纖維素為基料的系統設置樣品。 標準包含濃度從 0 到 200 mg/kg 不等的 17 種元素。 這三種立設置包含 5 個不同標準和 1 個校準樣品。
》迅速、靈敏
利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現迅速測量。
探測器電路提供的線性計數率可過 1,500,000 cps(在 50% 的死時間下),和計數率無關的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps),可更好地對鄰近譜線進行分離。強有力的探測性能使得 Epsilon 4 能譜儀越了傳統臺式儀器,實現了更快的測試響應和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行,因此與傳統的 EDXRF 臺式儀器相比,實現了更高的樣品通量。

能量色散式X射線熒光(EDXRF)臺式光譜儀Epsilon4制藥和化妝品無損元素分析儀參考技術指標:

樣品處理

X 射線管

檢測器

軟件

具備 10 個位置的可移動樣品交換器

穩定性高的金屬陶瓷側窗

高分辨率硅漂移探測器 (SDD),通常為 135 eV @ Mn-Kα

通過 Omnian 無標分析解決方案,進行元素篩選

光譜儀多可容納直徑 52 mm 的樣品(疏松粉末、液體、漿料和固體)

50 微米薄鈹窗,對輕元素高度(NaMgAlSi

大值(M) 計數率 1,500,000 c/s(在 50% 的死時間下)

通過 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析

包含自旋器,以提高液體、漿料和粉末結果的準確性

Ag X 射線光管,獲得 PS Cl 分析的高性能

薄入探測器射窗,高靈敏度

審計跟蹤軟件選項,以增強數據性,符合 FDA 21 CFR 11 部分

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