Epsilon 4礦業和礦產臺式X射線熒光光譜儀

所屬系列：ZJYQ-HYYQKS-MalvernPanalytical
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產品描述

X 射線熒光光譜儀 (XRF) 在礦業和礦產業發揮著重要且成熟的分析作用。廣泛用于勘探、等級控制和工藝監控，尋求廢棄物組成符合環境標準和法規的范圍內。
在采礦作業中利用 Epsilon 4 臺式光譜儀，即使在偏遠地區也可對礦石、礦物和巖石進行快速的元素分析。將基礎設施的低需求和高分析性能相結合，使得在公用設施有限的采礦地點能夠快速確定操作策略。
通過將臺式 XRF 光譜儀放置在礦場或加工廠旁邊，探索 XRF 分析的可能性，并將您的反饋時間從幾小時縮短到幾分鐘。
Epsilon 4礦業和礦產臺式X射線熒光光譜儀特點：
●臺式 XRF 的
Epsilon 4 將激發和檢測技術與智能設計相結合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀。選擇性激發和 X 射線管輸出與探測系統功能的優化配置為實現系統高性能打下了基礎。
●靈活WROXI解決方案
馬爾文帕納科已出一套 15 種合成的多元素寬范圍氧化物 (WROXI) 標準。 Epsilon 4可與WROXI一同交付,分析各種氧化物祥品中的主要和次要元素井將其制備成熔片。利用 Epsilon 軟件中馬爾文帕納科特的FP算法,WROXI應用程序可以確定各種巖石、礦石和礦物中高達21種常見氧化物的濃度。WROX可以用作主要熔片校準,或者用于驗證客戶的粉末祥品應用的內部標準。
●無人值守式運行
可自旋裝置以及在 10位進樣系統特性方便了自動化的成批樣品處理，中間無需操作員的介入。測量時，被測樣品的自旋可以盡量避免單個樣品內部質地不均，或者表面不規則而造成的錯誤，從而提供更準確的結果。
●迅速、靈敏
利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現迅速測量。
探測器電路提供的線性計數率可過 1,500,000 cps（在 50% 的死時間下），和計數率無關的分辨率通常高于 135 （eV@300 kcps），可更好地對鄰近譜線進行分離。強有力的探測性能使得 Epsilon 4 能譜儀越了傳統臺式儀器，實現了更快的測試響應和更低的檢出限。這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行，因此與傳統的 EDXRF 臺式儀器相比，實現了更高的樣品通量。
●降低氦氣消耗量

Epsilon 4 的高性能使得許多應用可以在空氣環境中運行，從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時間。在空氣中測量時，鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很。內置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化，尋求在各種氣候條件下檢測的結果不受影響。

Epsilon 4礦業和礦產臺式X射線熒光光譜儀參考技術指標：

樣品處理	X 射線管	檢測器	軟件
具備 10 個位置的可移動樣品交換器	穩定性高的金屬陶瓷側窗	高分辨率，一般為 135 eV @ Mn-Kα	通過 Omnian 無標分析解決方案，進行元素篩選
光譜儀多可容納直徑 52 毫米（2 英寸）的樣品	50 微米薄鈹窗，對輕元素高度（Na、Mg、Al、Si）	大計數率 1,500,000 c/s（在 50% 的死時間下）	通過 FingerPrint 解決方案，進行合格/不合格分析
包含自旋器，以提高空氣濾清器分析的準確性	Ag 陽 X 射線光管，獲得 P、S 和 Cl 分析的高性能	薄入探測器射窗，高靈敏度	使用 Oil-Trace，在新潤滑油和使用過的潤滑油中對磨損金屬進行靈活校準

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