所屬系列：ZJYQ-GYXWQJD-OLYMPUS
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奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100
奧林巴斯CIX100檢測系統是為要求生產組件保持較高清潔度標準的制造商而研發的整體解決方案。依照企業和國際標準對技術清潔度檢測數據進行快速采集、處理和存檔。該系統方便直觀的軟件可引導用戶完成每一步流程，即使經驗不足的操作員也能夠快速方便地采集清潔度數據。
奧林巴斯CIX100檢測系統：讓您的技術清潔更簡便
組件、零部件與流體的清潔對于生產工藝十分重要。滿足對于常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類的高標準要求對于包括開發、制造、批量生產和成品質量控制在內的所有流程均非常重要。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，國際和GJ指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。當前標準要求提供諸如顆粒物數量、粒度分布和顆粒物特征等有關污染物性質的詳細信息。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統設計可滿足現代工業及GJ和國際指令的清潔度要求。
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100特點：
n簡單可靠
硬件與軟件無縫集成的耐用型高生產率系統能夠產出可靠的數據。
=輕松配置用于自動化成套解決方案
=源自于穩定測量系統的可重復結果
=較佳的光學性能和可再現成像條件
=利用集成校準設備進行自動系統自檢
=實現所有硬件組件自動控制的系統集成
n更友好的直觀指南
方便的專用工作流能夠盡可能減少用戶操作并提高數據可靠性，而無關操作員的經驗水平。
=人性化工具讓修改檢測數據更加輕松。
=通過分步指導提高生產力并縮短檢測時間
=用戶權限管理功能可盡可能減少人為錯誤
=采用大尺寸按鈕設計，方便觸摸屏點擊
=合規一鍵式報告功能實現快速數據存檔
=所有數據均可自動保存，并可輕松導出和共享
=提供選配材料分析解決方案的顯微鏡模式
n快速實時分析
一體式掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒物的速度是需要使用兩個獨立圖像的傳統方法的兩倍。對已計數和已分類顆粒物的即時反饋可幫助您快速做出決定。
=概覽圖像有助于評估濾膜覆蓋情況、顆粒物聚集情況或者Z差的顆粒物
=對2.5 μm至42 mm范圍污染物顆粒進行自動實時處理和分類
=高產能：系統可在一次掃描中同時檢測反光和非反光顆粒物
=實時分析功能讓您能夠實時對結果做出反應
=根據選定行業標準定制符合要求的結果
n快速的數據評估
使用功能強大且易用的支持企業和國際清潔度檢測標準的工具修改檢測數據。以盡可能節省時間的方式清晰展示所有相關檢測結果。
=圖像和數據布局清晰有序，提高數據審核效率
=多種可選視圖實現即時顆粒物識別
=顆粒物位置和縮略圖與實時圖像關聯
=方便對檢測數據進行重新分類、審核修改以及重新計算
=實時顯示整體清潔度代碼、顆粒物和分類表
=通過趨勢分析識別隨時間推移的潛在測量偏差
=在一個視圖中顯示完整檢測數據
n合規報告創建
一鍵報告功能可滿足國際標準規定的要求及方法。自定義報表（如，包括顆粒物形態）輕松滿足公司標準。
=使用預定義合規模板生成ZYE報告
=輕松調整模板和報告以滿足行業和公司法規
=支持包括MS Word和PDF等多種輸出格式，
=為便于交流使用，對報告文件大小進行了優化。
=長期數據存儲，因此可在數年后用于判斷決策合理性
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100硬件技術參數：
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顯微鏡 |
奧林巴斯CIX100 |
電動對焦 |
3軸操縱桿控制同軸電動精細對焦 對焦行程 25 mm 微調行程100 μm/轉 載物臺托架Z大高度：40 mm 聚焦速度 200 μm/秒 可啟用軟件自動對焦 可定制式多點聚焦圖 |
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照明 |
內置LED照明 同時實現反光和非光顆粒物探測的CX照明機制 光強度可通過軟件控制 |
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成像設備 |
彩色CMOS USB 3.0相機 芯片像素大小2.2 x 2.2 μm |
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樣本量 |
標準樣品為直徑47 mm的濾膜。可提供膜直徑25毫米或55毫米的濾膜托架或定制樣品托架。 |
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物鏡轉換器 |
電動型 |
電動物鏡轉換器 |
6孔電動物鏡轉換器，已經安裝3個UIS2物鏡 PLAPON 1.25X，用于預覽 MPLFLN 5X，用于觀察大于10 μm的顆粒物 MPLFLN 10X，用于觀察大于2.5 μm的顆粒物 |
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軟件控制 |
圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關系隨時均可掌握。 物鏡在測量過程中被選定使用，并自動進行定位。 |
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載物臺 |
電動載物臺X,Y |
電動載物臺X,Y |
步進電機控制運動 Z大范圍：130 x 79 mm Z大速度240 mm/s (4 mm滾珠螺距) 可重復性 1 μm 分辨率0.01 μm 可使用3軸操縱桿控制 |
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軟件控制 |
掃描速度與所使用的倍率有關，10X物鏡時的掃描用時小于10分鐘 載物臺對齊由工廠在裝配時完成 |
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試樣托架 |
樣品托架 |
膜托架專為在安裝過程中避免發生意外的薄膜轉動而特別設計 薄膜通過膜托架進行機械式展平 固定蓋時無需使用工具 |
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顆粒物標準片(PSD) |
用于驗證系統測量的參考樣品 用于CIX功能校正的檢查系統集成功能所使用的樣品 顆粒物標準片(PSD)始終使用載物臺上的插槽2 |
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載物臺插件 |
2個載物臺插槽 |
載物臺插件專用于樣品托架和顆粒物標準片(PSD)的正確定位 |
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控制器 |
工作站 |
高性能預安裝式工作站 |
惠普Z4G4，Windows 10-64位ZYE版（英文版） 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數據存儲空間 2GB視頻適配器 已安裝Microsoft Office 2019（英文版） 具備聯網能力，英文全鍵盤，1000 dpi光學鼠標 |
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擴展插件 |
電動控制器，RS232串口和USB 3.0 |
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語言選擇 |
操作系統和Microsoft Office默認語言可由用戶更改 |
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觸摸屏顯示 |
23英寸超薄顯示屏 |
為CIX優化的1920x1080分辨率 |
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電源 |
額定值 |
AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個插頭) 輸入：100-240V AC 50/60Hz, 10 A |
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功耗 |
控制器：700瓦; 顯示器: 56瓦; 顯微鏡: 5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦 合計：769.2瓦 |
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圖紙 |
尺寸 (長 x 寬 x 高) |
約1300毫米 × 800毫米 × 510毫米 |
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重量 |
44公斤（97磅） |
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奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100系統環境要求
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常規使用 |
溫度 |
10 °C至35 °C（50 °F至95 °F） |
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濕度 |
30至80% |
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用于安全監管 |
環境 |
室內使用 |
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溫度 |
5 ℃至40 ℃（41 °F至104 °F） |
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濕度 |
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海拔高度 |
Z高2,000米(6,562英尺) |
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水平度 |
Z高 ±2° |
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電源和電壓穩定性 |
±10% |
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污染等級 (IEC60664) |
2 |
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總電壓分類(IEC60664) |
II |
奧林巴斯清潔度檢測儀CIX100軟件技術參數：
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軟件 |
CIX-ASW-V1.5 |
技術清潔度檢測的ZYE工作流軟件 |
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語言 |
GUI |
GUI：英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 |
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在線幫助 |
在線幫助：英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語 |
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許可證管理 |
軟件許可證通過許可證卡激活（安裝時已經激活） |
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用戶管理 |
系統可連接到網絡以進行域管理 可根據已認證用戶選擇功能范圍。 |
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實時圖像 |
以彩色模式顯示 |
金屬顆粒將呈現為藍色；非金屬顆粒將呈現為其原有顏色。 |
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窗口適應方法 |
圖像始終以全屏顯示。 |
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實時檢測 |
為提高速度，顆粒物在被捕捉到時即進行檢測 如果測量結果不佳，用戶可停止該進程 |
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實時分類 |
檢測到顆粒物即對其進行分類。 實時采集過程中在用戶界面上識別顆粒物尺寸分類。 |
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顯微鏡模式 |
可訪問顯微鏡模式以進行顯微成像。 選配使用材料分析解決方案（不包含）。 |
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圖像捕捉和手動測量 |
收集用戶快照 |
在查看模式下，可以從樣本上任何位置獲取單幅圖像，也可從實時觀察模式（從直接圖像）或樣本查看模式（從記錄數據）獲取圖像。 圖像可以以1000 × 1000像素的標準分辨率存儲為.tif、.jpg或.png文件。 快照可鏈接到已檢測到的顆粒物上，過后在分析報告中使用 可在EFI（景深擴展成像）模式下自動獲取顆粒物快照。 在分析報告中可使用以EFI模式獲取的記錄。 |
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手動測量 |
可對所獲取的快照執行任意距離測量。 可對任意測量進行重命名，并標記顏色。 存儲時，可在圖像中寫入任意測量值和比例尺。 |
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硬件控制 |
XY電動載物臺 |
操縱桿操作及軟件控制 在所選顆粒物上進行自動或手動重新定位 |
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電動物鏡轉換器 |
僅可使用軟件選擇 |
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電動調焦 |
操縱桿控制 可提供軟件自動對焦 使用多點對焦圖進行預測性自動對焦 |
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檢查系統 |
系統驗證 |
系統通過測量顆粒物標準片的參數進行驗證 生成OK或NOK的質量判定值 |
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可選物鏡 |
檢測系統只能與工作物鏡一起運行（至少應選擇一個物鏡）。 檢測系統運行時使用5X或10新物鏡或兩者同時使用。 |
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技術清潔度標準 |
支持標準 |
ASTM E1216-11:2016； ISO 4406:2021； ISO 4407:1999； ISO 4407:2002 [累積和差異]； ISO 11218:1993； ISO 12345:2013； ISO 14952:2003； ISO 16232-10:2007（A、N和V）； ISO 16232:2018（A、N和V）； ISO 21018:2008； DIN 51455:2015 [70%和85%]； NAS 1638:1964； NF E 48-651:1986； NF E 48-655:1989； SAE AS4059:2011；VDA 19.1:2015（A、N和V）； VDA 19.2:2015 |
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JQ符合VDA19:2016推薦要求 |
閾值將自動設置為VDA推薦值。 |
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顆粒類識別 |
顆粒物可通過顆粒類進行分類（纖維、反光顆粒、反光纖維或其他） |
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定制標準 |
用戶定義的標準可輕松確定 根據DT 55-83，顆粒物測量參數包括纖維狀顆粒尺寸和致密顆粒尺寸 |
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檢測配置 |
系統允許用戶進行加載、定義、復制、重命名、刪除以及保存檢測標準 標準及報告模板可以存儲和調用 可反轉檢測閾值以便檢測暗背景上的明亮顆粒物。 可順序獲取多個樣本。 每個樣本均可進行特定配置下的檢測。 |
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顆粒物平鋪視圖 |
以平鋪視圖顯示檢測到的顆粒物，提升導航效果 |
雙擊圖塊即可導航至每個顆粒物的位置。 每個圖塊均適應實際顆粒物的大小。 |
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存儲完整濾膜 |
存儲完整濾膜圖片 |
離線分析讓用戶能夠選擇不同標準進行結果顯示。 |
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數據導出 |
保存數據 |
檢測數據可導出為Excel（.xlsx）表格 軟件中的所有可用表均可導出為Excel。 |
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趨勢分析 |
多個樣本的趨勢分析（內置SQC工具） |
可顯示每個尺寸類別的數據。 可繪制時間、樣品、測量ID的圖表。 可選擇圖表刻度類型（對數-常數，對數-對數） 可提取數據點并將其導出為電子表格。 表格可以Q-DAS（.dfq）格式導出。軟件中的所有可用表均可導出為Excel。 |
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顆粒物編輯 |
在修改過程中可對顆粒物進行編輯。 |
功能包括： 使用線或折線添加、刪除、合并或拆分顆粒物。 修改顆粒物類型 |
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動態報告 |
使用Microsoft Word 2019模板可生成QM可定制的ZYE分析報告 |
模板可JQ定制 用戶可選擇將圖片放在表格之后，或在選擇不同顆粒物類時將所有圖片分組在一起。 |
選配解決方案CIX-S-HM
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高度測量 |
選定顆粒物的自動或手動高度測量 |
選配軟件解決方案可從所選顆粒物上方到下方進行自動對焦。顆粒物高度由此通過Z坐標Z大和Z小差獲得。 包含一個附加物鏡(20X MPLFLN)和一個在安裝時激活使用的許可證卡。 可在多個位置選擇多個顆粒物進行自動高度測量。 |
環境法律法規
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歐洲 |
低壓指令 2014/35/EU |
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EMC指令 2014/30/EU |
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RoHS指令 2011/65/EU |
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REACH法規，編號1907/2006 |
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包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC |
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WEEE指令 2012/19/EU |
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機械指令2006/42/EC |
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美國 |
UL 61010-1:2010第3版 |
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FCC 47 CFR第15部分 B子部分 |
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加拿大 |
CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12) |
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澳大利亞 |
1992無線電通信法案，1997電信法案 |
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節能條例 AS/NZS 4665-2005 |
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日本 |
電氣設備及材料安全法 (PSE) |
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韓國 |
電氣設備安全控制法案 |
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節能標簽及標準條例 |
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EMC和無線電通信條例（公告2913-5) |
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中國 |
中國RoHS |
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中國PL法 |
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手冊條例 |
