用于高性能表面分析的 X 射線光電子能譜儀。

Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統為表面分析帶來了一種新方法。K-Alpha XPS 系統專注于使用簡化的工作流程提供高質量的結果，使 XPS 操作簡單直觀，而不會犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統是一種集成式單色小光斑XPS系統，具備深度剖析能力。 

更先進的性能、更低的價格、更容易的使用性和較大的樣品測試量，使 K-Alpha XPS 系統成為多用戶環境的較理想選擇。K-Alpha XPS系統使世界各地的研究人員能夠進行表面分析。

K-Alpha X 射線光電子能譜儀特點：

▲高性能X射線源

K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 μm 至 400 μm 的分析區域內以 5 μm 的步長進行選擇，以尋求所需的信號更大化。

▲優的電子光學系統

高·效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現更佳的檢測和快速數據采集。

▲樣品視圖

使用K-Alpha XPS系統的光學觀察系統和XPS SnapMap聚焦樣品，幫助您快速確定分析測試區域。

▲絕緣樣品分析

在K-Alpha X射線光電子能譜儀中，雙束電子源將低能量離子束與低能量的電子（小于 1 eV）耦合，防止分析過程中的樣品帶電，從而在大多數情況下消除了荷電效應。

▲深度剖析

使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進行更深層表面的分析。自動源優化和氣體處理功能保障可靠的性能和實驗重現性。

▲數碼控制

由 Avantage 數據系統指導的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統成為多用戶、測試中心和注重高~效操作和高測試量的 XPS 專家的較理想選擇。

▲可選樣品臺

提供與K-Alpha X射線光電子能譜儀相匹配的各種特殊樣品臺供選擇，包括用于變角 XPS、樣品加偏壓測試，或從手套箱惰性轉移樣品等等。

K-Alpha XPS系統性能數據：