Thermo Scientific Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀(XPS)系統可進行全自動、高通量的表面分析，提供用于推進研發或解決生產問題的數據。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜，讓您進行真正的聯用分析。該系統現包含樣品加熱和樣品加偏壓功能選項，拓寬可進行的實驗范圍。Nexsa G2 表面分析系統發掘了材料科學、微電子、納米技術開發和許多其他應用領域的潛力。

X射線光電子能譜儀(XPS)Nexsa G2主要特點：

高性能   X 射線源

全新的低功率 X 射線單色器，允許以 5μm為間隔、選擇10μm 到 400μm 之間的分析面積，確保從感興趣的特征區域收集數據，同時使信號更大化。

優的電子光學系統

高·效的電子透鏡、半球形分析器和檢測器使其具有超強的檢測能力和快速的數據采集能力。

樣品視圖

使用Nexsa XPS 的光學觀察系統和 SnapMap 功能聚焦樣品特征區域，有助于快速定位感興趣的區域。

絕緣樣品分析

雙束中和源：既能出射低能離子，又能出射低能電子(小于1 eV)。在測試中能夠對樣品，特別是絕緣樣品，進行很好的中和，令數據分析簡單而可靠。

深度剖析

利用標準離子源或 MAGCIS（可選的雙模式單原子和氣體團簇離子源）獲取表面之下的信息；離子源的自動校準和氣體團簇的處理確保了較佳的性能和實驗的可重復性。

可選樣品臺

提供可選的各種特殊樣品臺，用于變角 XPS、樣品加偏壓測試或從手套箱惰性轉移樣品。

數碼控制

儀器控制、數據處理和報告均由基于 Windows 的 Avantage 數據系統控制。

NX 樣品加熱器模塊

全軟件控制的樣品加熱功能選項，支持溫度相關研究。

X射線光電子能譜儀(XPS)Nexsa G2規格：