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德國布魯克M4 TORNADO PLUS輕元素X射線熒光成像光譜儀(Micro-XRF)

所屬系列:ZJYQ-HYYQDZ-BRUKER

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產(chǎn)品描述
對比以往X射線熒光光譜儀, Bruker微區(qū)XRF能夠更多的展現(xiàn)樣品中的元素信息。
M4 TORNADO PLUS 具有超輕元素探測器,是能夠測量 6 號元素(C)以上元素的微區(qū) XRF 成像光譜儀。此外,所有輕元素的檢測靈敏度都有所提高。
在該儀器上,Bruker引入了AMS系統(tǒng),該系統(tǒng)可有效增強多導毛細管的聚焦深度,從而對不均勻樣品進行更為清晰的元素成像。可選的第二個 X 射線源進一步擴展了設備的分析功能,支持從 0.5 mm 到 4.5 mm四個可選光斑尺寸。
更輕,更快,更深。
M4 TORNADO 系列產(chǎn)品樣品倉支持He吹掃模式進行測試。這可在保持大氣壓力的條件下提高輕元素的測試性能,可對生物或濕樣品中的輕元素進行分析,而無需凍結(jié)或干燥樣品。

德國布魯克M4 TORNADO PLUS輕元素X射線熒光成像光譜儀(Micro-XRF)的分析性能:
?可對固體、顆?;蛞后w樣品進行測試,具有 M4 TORNADO 系列產(chǎn)品所具備的所有測試功能
?擴展您的 micro-XRF 的元素測試范圍,能夠從6號元素C開始記錄光譜、線掃描和樣品元素的面分布信息
?在 HyperMap 中記錄和保存每像素點的光學圖像和完整光譜信息
?通過將聚焦 X 射線光束與兩個高通量超輕元素SDD探測器相結(jié)合,可有效縮短測量時間
?使用可調(diào)整的基本參數(shù)法獲得快速定量結(jié)果,或使用Bruker的 XMethod 軟件進行有標樣支持或者基于標準參數(shù)法的鍍層樣品厚度分析
?使用AMS系統(tǒng)采集高聚焦深度的不均勻樣品表面元素分布圖像 
?在整個儀器的使用周期內(nèi),可通過升級和維護服務包提升使用性能

德國布魯克M4 TORNADO PLUS輕元素X射線熒光成像光譜儀(Micro-XRF)的應用:

電子元件元素分布分析

微電子元件越來越復雜。表面貼裝器件 (SMD) 集成電路 (IC) 的尺寸和相互距離也變得越來越小,主要通過印刷電路板(PCB)夾層下的電線實現(xiàn)相互連接。因此,分析此類樣品需要相應研究方法具有高空間分辨率一定的穿透能力。Micro-XRF 作為一種元素成像技術,它具有< 20 μm 的空間分辨率并且對于絕大多數(shù)金屬元素具有很高的靈敏度。因此,它可以成為從新型電子元器件設計和材料的研發(fā)到貴金屬零部件回收整個“生命周期”中的重要分析研究手段。主要應用是失效分析和質(zhì)量管理,包括鍍層厚度的測量;例如,電子元器件中 Au線的接觸 ,或焊盤凸起等。該方法也可用于對RoHS-和 WEEE 相關元素進行定性初篩??赏ㄟ^識別電子元器件中貴金屬或有害物質(zhì)的富集程度和相應位置,以實現(xiàn)高效環(huán)保的廢物處理以及電子元件的回收利用。

玻璃碎片快速鑒別
Micro-XRF作為一種分析工具,結(jié)合了多種功能,非常適合對玻璃等法醫(yī)樣品進行非破壞性分析。它可以提供有關樣品元素的信息,從主量元素到微量元素,可在不同環(huán)境條件下使用。

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