所屬系列：ZJYQ-HYYQJS-BRUKER
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M1 MISTRAL緊湊型臺式微區 XRF 光譜儀
緊湊型多用途臺式微區XRF，用于小點（100 μm）和多層鍍層分析（2 nm - 60 μm 厚度范圍），組成分析可低至 ppm 級別
M1 MISTRAL 是一種緊湊型多功能臺式能量色散微區 XRF 光譜儀。 M1 MISTRAL 易于操作，設計用于在工業環境中快速、經濟高效的操作，提供有關貴金屬合金等材料元素成分和鍍層厚度以及多層鍍層的準確信息。
根據 ASTM 標準 B568 和歐洲標準 ISO 3497 對塊體和鍍層進行分析。通過 Rh 靶材對化學沉積磷鎳 （NIP） 鍍層進行分析，可實現高精度。
所有珠寶合金、鉑族金屬或銀的成分可以在一分鐘內確定。結果可以以重量百分比或克拉表示。
分析可以進行無標方法或基于標樣的模型，以達到更高的精度。
從定位示例到在報表中打印結果 - 整個工作流程都可在軟件中實現。同時，通過開放訪問原始數據，保證了數據的可重現性。
M1 MISTRAL緊湊型臺式微區 XRF 光譜儀的特點：
可以無破壞性地測量多種元素。無需樣品制備。即使是復雜的分析任務也可以在可編程 XYZ 階段實現自動化，只需單擊鼠標即可開始。檢測系統快速提供結果。
M1 MISTRAL 配有大面積硅漂移探測器 （SDD），具有優越的計數速率性能和能量分辨率，可將檢測限制降低至 ppm 級別。高性能檢測器、數字脈沖處理和優化的幾何條件可產生高效的 X 射線檢測，從而快速準確地獲得分析結果。
M1 MISTRAL 的易于使用且免維護的設計以及功能強大的分析軟件套件允許操作，即使只有接受過簡短培訓的人員也能夠操作。無需消耗品或氣體。堅固的結構確保了最高的穩定性和免維護的操作。
M1 MISTRAL緊湊型臺式微區 XRF 光譜儀的應用：
鍍層分析
金屬鍍層通過為各種產品提供增強的表面性能，對許多工業部門至關重要。金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點，能夠保護基體材料，并大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質量控制對于確保正確的鍍層性能和耐久性至關重要。
化學鍍鎳鍍層
化學鍍鎳 （ENP） 是一種自動催化化學工藝，是在基材上沉積一層鎳磷 （Ni-P） 合金鍍層。鎳磷鍍層的主要優點之一是它能提供非常均勻的厚度，不依賴于零件的幾何形狀。化學鍍鎳可以覆蓋所有隱藏的表面，即使在復雜的零件上也提供完整的涂層覆蓋。
Rohs篩查
隨著電子設備的日益增多，電子垃圾的產生速度也比以往任何時候都快。近年來，歐盟和其他國家制定了多項法規，以促進電子垃圾的回收利用，并減少與電子垃圾生產增加相關的健康和環境風險。
M1 MISTRAL緊湊型臺式微區 XRF 光譜儀的技術細節：
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激發源 |
W 靶或 Rh靶的高性能微聚焦光管 |
最大樣本大小和重量 |
48 x 49 x 20 cm3 高達 1.8 Kg |
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探測器 |
Peltier 冷卻，30 mm2 高性能硅漂移探測器，<150 eV 能量分辨率，在 Mn Ka |
樣品臺最大行駛范圍 |
高達 200 mm x 175 mm x 80 mm（用于帶自動對焦和Easy Load功能的電動 XYZ 樣品臺） |
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多種元素 |
默認值：從 Ti （Z=22）W 靶 可選：從 Al （Z=13） Rh靶 |
儀器尺寸（W x D x H） |
550 mm x 680 mm x 430 mm |
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光斑大小 |
0.1 mm 至 1.5 mm 的準直器自動切換 |
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M1 MISTRAL緊湊型臺式微區 XRF 光譜儀的XSpect Pro 分析軟件套件：
儀器控制、數據采集和管理
用戶可選觸摸屏界面
樣品臺控制和編程
金屬多層鍍層厚度分析
定量成分分析、無標準和基于標準的經驗模型
具有自動峰值識別的譜線查看功能
統計過程控制 （SPC） 趨勢線和數據
報告生成器
結果存檔
