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菲希爾XRF分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600

所屬系列：ZJYQ-HYZYDZ-FISCHER

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產品描述

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是一款用戶友好的XRF臺式儀器，用于鍍層厚度測量和材料分析。它的特點是緊湊，實用的設計，但仍包含了符合預期的精密XRF測量部件。測量薄鍍層(≤ 0.1）μm，精Q、快速、無損。此外，對具有復雜成分或低濃度的XRF分析也能輕松實現。由于DCM（距離控制測量）方法，即使是復雜幾何形狀樣品的鍍層厚度測量和材料分析也非常簡單。
菲希爾XRF分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600特征：
?XRF測試儀器符合 X射線標準 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
?無損測量≤ 0.1 μm (0.004 mils) 的超薄鍍層的鍍層厚度及材料分析
?4x 可切換的準直器 (collimator): ? 0.1 mm (3.9 mils), ? 0.3 mm (11.8 mils), ? 1 mm (39.4 mils), ? 3 mm (118 mils)
?3x 可切換的初級濾波器
?手動可調節樣品臺（剪叉式升降臺），方便快速放置樣品
?由于其緊湊的設計，XRF儀器重量輕，只需要很少的空間
?作為定位輔助的激光指示器能幫助快速找準樣品
?高分辨率彩色攝像機簡化了測量區域的JQ定位
?通過用戶友好的Fischer WinFTM®軟件操作、評估測量并清晰顯示測量值
菲希爾XRF分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600應用：
?電子和半導體行業中引線框架、連接器或印刷電路板上的功能鍍層
?復雜多層鍍層結構的測量
?焊錫中鉛含量的測量
?NiP鍍層中磷含量的測量

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