所屬系列：ZJYQ-SYSYQCD-ANMIAO
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上海鑄金分析儀器有限公司可提供多系列的厚度測量儀，如涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜厚度儀,機械式測厚儀,渦流測厚儀,磁性測厚儀,超聲波測厚儀,X射線熒光等光學測厚儀，本頁面為您展示的是AM-112-200NF微涂層測厚儀,歡迎查看了解，您也可以直接聯系鑄金說出您的應用需求。鑄金儀器將竭誠根據您的需求提供相關厚度測量儀解決方案。
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分辨率 |
0.1um |
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準確度 |
±（1~3%n)或±2.5um |
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測試范圍 |
0~200um |
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測量面積 |
2mm |
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最薄基體 |
0.1mm |
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最小曲面 |
NF 型凸2mm / 凹4mm |
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操作條件 |
溫度-5~50°C 濕度＜95%RH |
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電源 |
4x1.5AAA 7號電池 |
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主機尺寸 |
140x70x30mm |
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主機重量 |
130g （不含電池） |
微涂層測厚儀AM-112-200NF產品配件：
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標準配件 |
主機 |
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鋁基（1塊） |
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校準膜片（1套） |
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測量傳感器 |
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手提便攜箱 |
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操作說明書 |
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可選配件 |
USB數據線輸出 |
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藍牙Bluetooth數據輸出 |
