布魯克宣布推出新的D8 DISCOVER Plus TM X射線衍射（XRD）解決方案

    2019年9月4日 - 在日本分析科學儀器展（JASIS）上，布魯克宣布推出新的D8 DISCOVER Plus TM X射線衍射（XRD）解決方案，其中包括新的非共面手臂和MONTEL加上TM X射線光學系統。

    新的非共面臂使D8 DISCOVER Plus能夠以高精度和易用性進行面內衍射測量。結合ATLAS TM測角儀的自動扭矩控制TM技術，非共面臂為面內衍射設定了新的基準。有關的超薄層成功面內衍射，成功的關鍵是一個高度并行和強烈的X射線束，這是由獨特的布魯克IμS提供TM與新的X射線源MONTEL加光學器件。在D8 DISCOVER加用非共面臂和MONTEL Plus光學系統可將測量強度提高一個數量級，從而獲得更佳數據質量，從而獲得對結構特性的新見解。

    在D8 DISCOVER另外還配備了新的X射線檢測技術，包括LYNXEYE XE-T ，高可用能量分辨率條探測器，或導致多模式混合光子計數（HPC）檢測市場EIGER2 [R 500K，既為材料研究中的各種分析任務提供佳的功能。

在D8 DISCOVER加上提供與其他D8系列組件的兼容性。它具有DIFFRAC.DAVINCI用于實時組件識別，以及DIFFRAC.SNAP-LOCK，無需工具即可無需對齊地更換系統子單元。

    “隨著新型D8 DISCOVER Plus X射線衍射解決方案與非共面臂和MONTEL Plus光學系統的推出，布魯克再次在XRD儀器中設立標準。在D8 DISCOVER加上被設計成在寬范圍的結構分析中的應用從粉末在制藥工業中，以結晶在薄層器件結構提供高精確度的結果，對于所有種類的材料，”陳述馬丁齊默爾曼博士Bruker' XRD薄膜解決方案的產品經理。